能量色散型X射線熒光分析裝置EDX-GP

簡(jiǎn)要描述：EDX-GP是Z適合用于RoHS/ELV/無(wú)鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。*次使用，也能輕松操作，操作簡(jiǎn)便且以更高的精度進(jìn)行微量分析，達(dá)到Z高靈敏度與Z佳分辨率的*結(jié)合。標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無(wú)需購(gòu)買特殊選購(gòu)件，使可以獲得Z佳RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統(tǒng) 。

產(chǎn)品型號(hào)：EDX-GP
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2023-07-26
訪問(wèn) 量：1257

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詳細(xì)介紹

本裝置配置了RoHS/ELV檢測(cè)中*zui高的EDX－720型的半導(dǎo)體檢測(cè)器、濾光片及高計(jì)數(shù)率電路。

為什么需要高靈敏度？

能夠測(cè)定更微量的元素。測(cè)定時(shí)間更短，因此相同時(shí)間內(nèi)測(cè)定數(shù)量更多。

■鹵素系列阻燃劑中微量Cd

〔keV〕

為什么需要高分辨率？

可以減輕目標(biāo)元素附近的其他共存元素的重疊影響。

■ 鹵素系列阻燃劑中微量Pb

〔keV〕

為什么需要高精度？

在IEC提出的合格判定中，分析裝置的重現(xiàn)性對(duì)判定結(jié)果有很大的影響，重現(xiàn)性越好（即測(cè)定精度越高），合格判定的準(zhǔn)確度就越高。

利用濾光片提高靈敏度／還可以進(jìn)行高靈敏度的無(wú)鹵素分析

標(biāo)準(zhǔn)配備了5種濾光片，可降低、除去形成背景成分的X射線管的散射線，提高檢測(cè)靈敏度。

本裝置在RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析中會(huì)自動(dòng)選擇3種zui合適的濾光片，進(jìn)行高靈敏度測(cè)定?！?/td>

受X射線管Rh的特征X射線影響的Cl也可以測(cè)定

　微量成分：Cl（除去特征X射線）

利用濾光片提高檢測(cè)靈敏度

微量成分：Pb（背景降低）

濾光片條件靈活，滿足客戶要求

如果您希望在短時(shí)間內(nèi)對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行測(cè)定，推薦使用單個(gè)濾光片進(jìn)行高速分析。

<由單個(gè)濾光片進(jìn)行高速分析> 測(cè)定時(shí)間：100秒

如果您希望對(duì)微量元素進(jìn)行高靈敏測(cè)定，可以選擇各種濾光片進(jìn)行高靈敏度分析。
與單個(gè)濾光片高速分析相比，靈敏度約提高2～3倍。

<由濾光片進(jìn)行高靈敏度分析>
測(cè)定時(shí)間：300秒（100秒×3通道）

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